原创力文档用X射线衍射仪测量分析粉末与薄膜样品的结构
实验目的：
1.了解X射线衍射仪的原理和仪器特征，熟悉X射线衍射仪的常规测量方法，
2.熟悉物相分析方法，
3.熟悉薄膜样品的测量方法。
仪器原理与材料：
X射线衍射仪是利用衍射原理，精确测定物质的晶体结构、织构及应力，精确
的进行物相分析、定性分析与定量分析。广泛应用于冶金、石油、化工、科研、
、教学及材料生产等领域。
1.仪器原理
本实验利用荷兰帕纳科公司(PANalyticalB.V.)生产的X射线衍射仪，型号为
XPertPR
用X射线衍射仪测量分析粉末与薄膜样品的结构
实验目的：
1.了解X射线衍射仪的原理和仪器特征，熟悉X射线衍射仪的常规测量方法，
2.熟悉物相分析方法，
3.熟悉薄膜样品的测量方法。
仪器原理与材料：
X射线衍射仪是利用衍射原理，精确测定物质的晶体结构、织构及应力，精确
的进行物相分析、定性分析与定量分析。广泛应用于冶金、石油、化工、科研、
、教学及材料生产等领域。
1.仪器原理
本实验利用荷兰帕纳科公司(PANalyticalB.V.)生产的X射线衍射仪，型号为
XPertPR
文档评论（0）