CN120275946A 一种稀布双阵元比相、双频解相位模糊雷达测角方法及装置 （北京理工大学）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN120275946A(43)申请公布日2025.07.08

(21)申请号202510772517.0

(22)申请日2025.06.11

(71)申请人北京理工大学

地址100081北京市海淀区中关村南大街5

号

(72)发明人沈清吴爽

吴函天顾天元

崔嵬杨家鸣

(74)专利代理机构北京理工大学专利中心

11120

专利代理师刘芳

(51)Int.CI.

G01S13/06(2006.01)

GO1S7/41(2006.01)

权利要求书3页说明书9页附图3页

(54)发明名称

一种稀布双阵元比相、双频解相位模糊雷达测角方法及装置

(57)摘要

CN120275946A本发明涉及一种稀布双阵元比相、双频解相位模糊雷达测角方法及装置，属于雷达测量技术领域。该方法的具体过程为：步骤一，稀布双阵元在双载波频率和下双通道比相测量，获得阵元间的相位差，进而获得包含相位误差的模糊系数；根据所述模糊系数，确定双频率和载波取值的约束条件；步骤二，在所述步骤一所确定的约束条件下，选定雷达信号工作频率，根据不同频率下的双阵元相位差构造虚拟短基线；步骤三，基于

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CN120275946A权利要求书1/3页

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1.一种稀布双阵元比相、双频解相位模糊雷达测角方法，其特征在于，具体过程为：

步骤一，稀布双阵元在双载波频率f和f?下双通道比相测量，获得阵元间的相位差，进而获得包含相位误差的模糊系数；根据所述模糊系数，确定双频率f和f?载波取值的约束条件；

步骤二，在所述步骤一所确定的约束条件下，选定雷达信号工作频率，根据不同频率下的双阵元相位差构造虚拟短基线；

步骤三，基于虚拟基线解模糊方法，计算得到无模糊高精度一维测角角度。

2.根据权利要求1所述稀布双阵元比相、双频解相位模糊雷达测角方法，其特征在于，所述步骤一获得阵元间的相位差以及包含相位误差的模糊系数的具体过程为：

稀布双阵元在两种发射频率条件下双通道比相测量，获得阵元间的相位差为?和φ2;

其中，1和2分别表示中和?中无相位测量误差的部分，而△Φ和△中则表示和?中的相位测量误差部分；

包含相位误差的模糊系数为：

其中，round(·)表示四舍五入取整计算，d为基线长度，△d为虚拟短基线，△?=?-2,

△φ=△中?-△Φ。

3.根据权利要求2所述稀布双阵元比相、双频解相位模糊雷达测角方法，其特征在于，所述步骤一根据所述阵元间相位差和所述模糊系数，确定双频率f和f?载波取值的约束条件的具体过程为：

根据|△φ|=|△?-△中?|≤2ε并结合相位误差的模糊系数5需满足对取整计算无影响，可得

将双通道间相位差最大测量误差表示为确定双频率f和f?载波取值的约束条件为：

或

4.根据权利要求3所述稀布双阵元比相、双频解相位模糊雷达测角方法，其特征在于，根据所述约束条件，在选定载波频率f,得到f?的取值应满足条件：

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5.根据权利要求4所述稀布双阵元比相、双频解相位模糊雷达测角方法，其特征在于，根据选定载波频率f及f?的取值应满足条件，确定工作频率f?,构造虚拟基线为：

△d=d·f|?-f|/f1。

6.根据权利要求5所述稀布双阵元比相、双频解相位模糊雷达测角方法，其特征在于，所述步骤三基于虚拟基线解模糊方法，计算得到无模糊高精度一维测角角度，具体为：

根据双通道比相测量得到的相位差，计算物理长基线的模糊参数ξ,

其中，1、φ2分别表示在f、f?频率条件下双通道比相测量得到的两阵元间相位差，△φ=?-?;

基于物理长基线的模糊参数ξ,从而解算无模糊高精度一维测角角度?:

其中，c表示光速。

7.一种稀布双阵元比相、双频解相位模糊雷达测角装置，其特征在于，包括稀布双阵元、约束条件计算模块、虚拟短基线构造模块以及一维测角模块；

约束条件计算模块，利用稀布双阵元在双载波频率f和f?下双通道比相测量，获得阵元间的相位差，进而获得包含相位误差的模糊系数；根据所述模糊系数，确定双频率f和f?载波取值的约束条件；

虚拟短基