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T_ZZB 3888-2024 半导体芯片测试用探针头.docxVIP

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  • 2026-01-20 发布于河北
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T_ZZB 3888-2024 半导体芯片测试用探针头.docx

    ICS31.240CCSL97

    团体标准

    T/ZZB3888—2024

    半导体芯片测试用探针头

    Semiconductorchiptestprobeplungers

    2024-12-06发布2024-12-06实施

    浙江省质量协会发布

    I

    T/ZZB3888—2024

    目次

    前言 II

    1范围 1

    2规范性引用文件 1

    3基本要求 1

    4技术要求 2

    5试验方法 3

    6检验规则

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