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2025年（微电子科学与技术）集成电路测试技术试题及答案

第I卷（选择题，共40分）

答题要求：请将正确答案的序号填在括号内。每题2分，共20题。

1.集成电路测试的主要目的不包括（）

A.验证电路功能B.检测电路性能C.提高电路速度D.发现电路缺陷

答案：C

2.以下哪种测试方法不属于功能测试（）

A.黑盒测试B.白盒测试C.边界扫描测试D.直流参数测试

答案：D

3.集成电路的功耗测试通常在（）条件下进行。

A.高电压B.低电压C.正常工作电压D.任意电压

答案：C

4.逻辑电路的测试向量生成主要基于（）

A.电路拓扑结构B.逻辑功能C.工艺参数D.版图设计

答案：B

5.集成电路测试中的故障覆盖率是指（）

A.已检测到的故障数与总故障数的比值

B.未检测到的故障数与总故障数的比值

C.已检测到的故障数与已注入故障数的比值

D.未检测到的故障数与已注入故障数的比值

答案：A

6.边界扫描测试技术主要用于（）

A.芯片内部逻辑测试B.芯片引脚功能测试

C.芯片与外部电路连接测试D.芯片功耗测试

答案：C

7.集成电路的交流参数测试不包括（）

A.频率响应B.增益C.静态电流D.相位特性

答案：C

8.测试环境对集成电路测试结果的影响主要体现在（）

A.测试精度B.测试速度C.测试成本D.以上都是

答案：D

9.以下哪种测试设备常用于集成电路的功能测试（）

A.示波器B.频谱分析仪C.逻辑分析仪D.万用表

答案：C

10.集成电路测试中的温度范围通常是（）

A.-20℃到80℃B.-40℃到120℃C.0℃到50℃D.任意温度

答案：B

11.功能测试中的激励信号通常是（）

A.随机信号B.特定模式信号C.直流信号D.交流信号

答案：B

12.集成电路测试中的负载特性测试主要关注（）

A.输出电流能力B.输入电阻C.输出电容D.以上都是

答案：D

13.以下哪种测试方法可以检测集成电路的潜在故障（）

A.老化测试B.功耗测试C.功能测试D.直流参数测试

答案：A

14.集成电路测试中的数据采集系统主要用于（）

A.采集测试数据B.生成测试激励C.分析测试结果D.控制测试过程

答案：A

15.逻辑电路的时序测试主要关注（）

A.信号的上升沿和下降沿时间B.信号的传输延迟

C.信号的建立时间和保持时间D.以上都是

答案：D

16.集成电路测试中的故障诊断主要基于（）

A.测试数据B.电路设计文档C.工艺信息D.以上都是

答案：A

17.以下哪种测试设备常用于集成电路的直流参数测试（）

A.示波器B.频谱分析仪C.万用表D.逻辑分析仪

答案：C

18.集成电路测试中的电源完整性测试主要关注（）

A.电源电压的稳定性B.电源噪声C.电源分配网络的性能D.以上都是

答案：D

19.功能测试中的响应分析主要基于（）

A.预期输出与实际输出的比较B.输入信号的特征

C.电路的工作状态D.以上都是

答案：A

20.集成电路测试中的可靠性测试不包括（）

A.高温老化测试B.低温测试C.湿度测试D.功能测试

答案：D

第Ⅱ卷（非选择题，共60分）

（一）简答题（共20分）

答题要求：请简要回答问题，答案写在下方下划线区域内。每题5分，共4题。

1.简述集成电路测试中功能测试的基本原理。

功能测试是基于电路的逻辑功能进行测试。通过给电路施加特定的输入激励信号，观察电路的输出响应是否符合预期的逻辑功能。将实际输出与预期输出进行比较，若一致则电路功能正常，否则说明存在功能故障。

u功能测试基于电路逻辑功能，施加激励信号，比较实际与预期输出判断功能是否正常。/u

2.说明边界扫描测试技术的优点。

边界扫描测试技术具有可测试芯片引脚与外部电路的连接情况、能减少测试夹具成本、便于进行芯片级和板级测试等优点，提高了测试效率和准确性，方便对集成电路进行全面的电气连接和功能测试。

u可测芯片引脚连接，减少夹具成本，便于芯片级和板级测试，提高测试效率和准确性。/u

3.简述集成电路功耗测试的重要性。

功耗测试对于评估集成电路的能源利用效率、散热需求、电池供电设备的续航能力等至关重要。了解功耗情况有助于优化电路设计，降低功耗，提