深度解析(2026)《JBT 5580-1991半导体集成电路机电仪专用数字电路测试方法》：从标准沿革到未来智能化测试的专家视角与行业前瞻.pptxVIP

《JB/T5580-1991半导体集成电路机电仪专用数字电路测试方法》(2026年)深度解析：从标准沿革到未来智能化测试的专家视角与行业前瞻

目录目录一、标准溯源与时代价值：一部尘封的行业规范如何映射中国早期半导体测试技术的自主化征程与当代启示？二、核心术语与测试哲学解构：深入剖析标准中关键定义与测试理念，奠定现代数字电路可靠性评估的理论基石。三、电参数测试方法全景透视：从静态到动态，专家详解标准中电压、电流、时间参数的精确测量逻辑与陷阱规避。四、功能测试的深度迷宫：如何依据标准构建完备的测试向量与序列，确保机电仪专用电路行为百分百符合设计预期？五、极限条件下的可靠性考验：温度、电源与