2025年半导体设备封装测试五年技术报告
一、2025年半导体设备封装测试五年技术报告
1.1技术背景
1.2技术发展趋势
1.2.1封装技术
1.2.1.1三维封装技术
1.2.1.2扇出封装技术
1.2.2测试技术
1.2.2.1芯片级封装测试
1.2.2.2晶圆级封装测试
1.2.3自动化与智能化
1.2.3.1自动化测试设备
1.2.3.2智能化测试技术
1.3技术创新与应用
1.3.1创新技术
1.3.1.1新型封装材料
1.3.1.2新型测试方法
1.3.2应用领域
1.3.2.1高性能计算
1.3.2.2物联网
二、市场动态与竞争格局
2.1
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