《GAT 1966-2021法庭科学 电子设备存储芯片数据检验技术规范》专题研究报告.pptx

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目录

一、从规范到基石：专家视角GA/T1966如何重塑电子证据检验新范式

二、直面存储芯片物理层迷雾：深度剖析规范中芯片识别与提取的核心技术矩阵

三、“数据坟墓”中的信号重构艺术：专家芯片级数据恢复的技术路径与法律边界

四、从比特流到证据链：规范如何指导数据解析、重组与可信时间戳的构建

五、检验过程无懈可击？深度剖析规范中质量控制的刚性要求与风险防控盲点

六、工具与环境的“白盒化”：规范对检验设备、环境及操作流程的标准化革命

七、当AI遇见芯片取证：前瞻规范未言明的未来趋势——智能化检验的机遇与挑战

八、从实验室到法庭：专家检验报告如何跨越“最后一公里