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基于机器视觉的TFT缺陷检测系统：技术创新与应用实践

一、引言

1.1研究背景与意义

在现代显示领域，薄膜晶体管（ThinFilmTransistor，TFT）技术凭借其卓越的性能，已成为显示行业的核心技术之一，在众多电子设备中广泛应用。从最初的计算机显示器，到如今的智能手机、平板电脑、电视，甚至汽车仪表盘和工业控制屏幕等，TFT液晶显示屏无处不在。其轻薄、低功耗、高分辨率、高对比度以及快速响应时间等优势，为用户带来了更加清晰、逼真和流畅的视觉体验。

在TFT生产过程中，由于受到材料、工艺、设备以及环境等多种因素的影响，TFT屏幕不可避免地会出现各种缺陷。这些缺陷不仅会影响显示效果，如出现亮点、暗点、坏点、线缺陷、mura缺陷（即屏幕亮度、颜色不均匀的现象）等，导致图像模糊、色彩失真、显示异常等问题，降低产品的视觉质量，还可能引发严重的产品质量问题，使产品无法达到质量标准，导致产品报废，增加生产成本。据相关数据统计，在TFT生产中，因缺陷导致的产品不良率可达5%-15%，这对于大规模生产的显示行业来说，是一个不容忽视的问题。这些有缺陷的产品一旦流入市场，还会严重影响用户体验，损害品牌形象，降低用户对产品和品牌的信任度，进而影响企业的市场竞争力和经济效益。

传统的TFT缺陷检测方法主要依赖人工目视检测。然而，这种方法存在诸多局限性。人工检测效率低下，难以