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深度解析(2026)《SJT 11501-2015碳化硅单晶晶型的测试方法》.pptxVIP

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  • 2026-02-02 发布于云南
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深度解析(2026)《SJT 11501-2015碳化硅单晶晶型的测试方法》.pptx

    ;目录

    一

    、

    开启碳化硅单晶时代：为什么晶型测试是第三代半导体材料质量控制与产业升级的核心命脉与战略基石？二、

    深度解构SJ/T11501-2015标准框架：从总则到报告，如何系统性构建科学、严谨、可追溯的碳化硅单晶晶型测试全流程体系？三、

    拨开迷雾见真章：专家视角深度剖析碳化硅单晶4H、6H、15R等不同晶型的本质差异、形成机理与鉴别核心逻辑。四、

    X射线衍射（XRD）技术在碳化硅晶型测试中的权威应用：从原理、设备选型到图谱解析，如何精准锁定“晶型指纹”？五、

    拉曼光谱法的独特优势与实战指南：面对复杂样品与微观区

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