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探寻IP核可测性设计：扫描链插入与测试封装加载的深度剖析

一、引言

1.1研究背景与意义

在当今数字化时代，集成电路技术飞速发展，片上系统（SoC）凭借其高度集成化、高性能以及低功耗等显著优势，在众多领域得到了广泛应用，从智能手机、平板电脑等消费电子设备，到汽车电子、工业控制以及航空航天等关键领域，SoC都发挥着核心作用。随着市场对电子产品功能多样性和性能要求的不断攀升，SoC的集成度呈现出指数级增长趋势，单个芯片上能够集成数以亿计的晶体管，这使得SoC的规模和复杂度达到了前所未有的高度。

在SoC设计中，IP核（知识产权核）复用技术成为了应对日益增长的设计挑战的关键策略。通过