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2026年考试题集：材料无损检测专业知识

一、单选题（共10题，每题2分）

1.在超声检测中，关于直探头检测板厚测量的描述，下列哪项是错误的？

A.探头频率越高，测厚精度越高

B.板厚测量时需考虑探头楔块声阻抗的影响

C.小间隙测量时，应选择角度探头以减少折射损失

D.液体耦合剂必须完全填充探头与工件间的间隙

2.某钢结构件在射线检测中显示连续性缺陷，其最可能的原因为？

A.工件内部存在夹杂物

B.探伤胶片曝光不足

C.射线源强度衰减过大

D.工件表面存在油污导致伪缺陷

3.关于涡流检测的描述，下列哪项正确？

A.涡流检测适用于导电性良好的金属表面检测

B.涡流检测对非导电材料如塑料无检测效果

C.涡流检测无法检测埋藏缺陷

D.涡流检测受工件几何形状限制较大

4.磁粉检测中，关于磁痕显示的描述，下列哪项是错误的？

A.开放性缺陷的磁痕呈连续线条状

B.短而深的缺陷磁痕可能被误判为伪缺陷

C.磁痕颜色与缺陷深度无关

D.磁痕强度受工件磁化程度影响

5.渗透检测中，关于清洗剂的要求，下列哪项描述错误？

A.清洗剂必须完全去除油污，否则影响渗透剂进入缺陷

B.清洗剂应与渗透剂相容，避免乳化和变色

C.清洗剂应具有强氧化性以加速干燥过程

D.清洗后工件表面需立即干燥，避免水分残留

6.关于超声波检测中校准试块的作用，下列哪项描述错误？

A.校准试块用于确定探头的声束偏离角度

B.校准试块需定期更换以保证声学性能稳定

C.校准试块必须与被检工件材质相同

D.校准试块用于测量声时和声程，校准仪器参数

7.射线检测中，关于胶片特性曲线（H-D曲线）的描述，下列哪项错误？

A.曲线斜率越大，胶片对比度越高

B.胶片感光特性受显影时间影响

C.高对比度胶片适用于检测细小缺陷

D.胶片灰雾度越高，缺陷细节越清晰

8.涡流检测中，关于频率选择的影响，下列哪项描述错误？

A.高频涡流检测灵敏度高，但穿透深度浅

B.低频涡流检测适用于大面积快速扫查

C.频率越高，对传感器线圈尺寸要求越高

D.频率选择与被检工件导电率无关

9.磁粉检测中，关于磁化方法的描述，下列哪项错误？

A.交流磁化适用于检测表面和近表面缺陷

B.直流磁化时，缺陷两侧磁极性相反

C.半波磁化可提高缺陷检测灵敏度

D.磁化电流越大，磁化磁场越强

10.渗透检测中，关于显像剂的描述，下列哪项错误？

A.显像剂需具备高吸附性以聚集渗透剂

B.显像剂应与渗透剂、清洗剂相容

C.显像剂干燥后需立即观察，避免磁化干扰

D.显像剂的粒度会影响缺陷显示的清晰度

二、多选题（共5题，每题3分）

1.超声检测中，影响声束聚焦效果的因素包括？

A.探头晶片尺寸

B.探头频率

C.工件声阻抗匹配

D.声束发散角度

E.探头与工件耦合剂类型

2.射线检测中，关于胶片-增感屏组合的描述，正确的是？

A.增感屏可提高胶片感光效率

B.增感屏需与胶片匹配，避免辐射吸收损失

C.双面曝光时，增感屏需对称放置

D.增感屏会增加胶片灰雾度

E.增感屏仅适用于低能射线检测

3.涡流检测中，关于传感器线圈设计的描述，正确的是？

A.线圈阻抗受被检工件导电率影响

B.插入式线圈适用于检测孔洞缺陷

C.穿孔式线圈可检测薄板表面缺陷

D.线圈尺寸越大，检测灵敏度越高

E.线圈屏蔽设计可减少干扰信号

4.磁粉检测中，影响磁痕显示清晰度的因素包括？

A.工件磁化均匀性

B.磁粉粒度分布

C.渗透剂干燥时间

D.磁化电流波形

E.表面清洗程度

5.渗透检测中，关于显像剂的干燥过程，正确的是？

A.自然干燥需避免环境温度过高

B.热风干燥可加速显像剂蒸发

C.真空干燥适用于潮湿环境检测

D.干燥过度会导致缺陷显示模糊

E.显像剂干燥时间需标准化控制

三、判断题（共10题，每题1分）

1.超声检测中，声时测量误差主要来源于声束折射和探头位置调整。（√）

2.射线检测中，高能射线（≥150kV）穿透力强，但缺陷细节显示能力差。（√）

3.涡流检测中，传感器线圈与被检工件距离越小，检测灵敏度越高。（×）

4.磁粉检测中，工件表面粗糙度越高，磁痕显示越清晰。（×）

5.渗透检测中，显像剂必须覆盖整个检测区域，不得遗漏。（√）

6.超声检测中，横波探测适用于检测复合材料层间缺陷。（√）

7.射线检测中，胶片灰雾度越高，缺陷对比度越高。（×）

8.涡流检测中，传感器线圈自感抗会影响检测频率选择。（√）

9.磁粉检测中，直流磁化比交流磁化更适用于检测近表面缺陷。（×）

10.渗透检测中，清洗剂残留会阻碍渗透剂进入缺陷。（√）

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