GB/T 4937.37-2025半导体器件　机械和气候试验方法　第37部分：采用加速度计的板级跌落试验方法.pdf

ICS31.080.01

CCSL40

中华人民共和国国家标准

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GBT4937.372025IEC60749-372022

半导体器件机械和气候试验方法

:

第部分采用加速度计的板级跌落

37

试验方法

——

SemiconductordevicesMechanicalandclimatictestmethods

:

Part37Boardleveldrotestmethodusinanaccelerometer

pg

(:,)

IEC60749-372022IDT

2025-12-31发布2026-07-01实施

国家市场监督管理总局

发布

国家标准化管理委员会

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GBT4937.372025IEC60749-372022

目次

前言…………………………Ⅲ

引言…………………………Ⅴ

1范围………………………1

2规范性引用文件…………………………1

3术语和定义………………1

4试验设备和器件…………………………2

5试验程序…………………4

6失效判据和失效分析……………………7

7说明………………………7

()、、…………………

附录资料性标准电路板结构材料设计和版图

A9

参考文献……………………13

Ⅰ

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GBT4937.3720