宣贯培训(2026年)《GBT 40109-2021表面化学分析 二次离子质谱 硅中硼深度剖析方法》长文.pptxVIP

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目录

一、《GB/T40109-2021》权威启航：专家深度解读二次离子质谱硅中硼剖析的国家标准核心要义与战略定位

二、从原理到实践：深入解析二次离子质谱进行硅中硼深度剖析的物理基础与技术实现路径全景

三、标样与校准：构建硅中硼定量分析准确性的基石——参考物质选择与校准曲线建立方法精讲

四、仪器参数优化之战：如何精细调控一次离子束、分析条件以获得最真实的硼深度分布信息

五、剖析全过程的关键控制点：从样品制备、数据采集到谱图处理的标准化操作流程专家指南

六、陷阱识别与数据修正：深度剖析中溅射速率变化、界面效应、记忆效应等复杂问题的解决方案

七、不确定度评估深度剖析：系统解构GB/T40