宣贯培训(2026年)《YDT 6305-2024安全芯片非入侵式攻击缓解测试方法》.pptxVIP

《YD/T6305-2024安全芯片非入侵式攻击缓解测试方法》(2026年)宣贯培训;

目录

一、《YD/T6305-2024》的划时代意义：从被动防御到主动免疫，安全芯片测试方法论如何重塑我国集成电路产业的安全基石与未来竞争力？

二、深度剖析非入侵式攻击的隐秘战场：侧信道与故障注入攻击的物理原理、技术演进及其对现代密码体系的系统性威胁全景图

三、专家视角下的标准核心框架解密：如何系统构建覆盖威胁建模、缓解技术、测试验证三位于一体的安全芯片评估闭环体系？

四、直面测试挑战：从实验室理想环境到复杂应用场景，如何确保非入侵式攻击缓解措施的有效性、一致性与可重复性？

五、侧信道攻击缓解技术测