宣贯培训(2026年)《GBT 13387-2009硅及其他电子材料晶片参考面长度测量方法》.pptxVIP

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目录

一、标准启航：前瞻行业趋势，洞悉GB/T13387-2009在第三代半导体浪潮中的核心战略价值与深度定位

二、抽丝剥茧：专家视角深度剖析标准文本结构，构建晶片参考面测量知识体系的完整逻辑框架

三、度量衡基：从核心定义与术语精解出发，筑牢晶片参考面长度测量的理论基石与认知边界

四、显微镜下：精密解构测量环境、设备与试样制备的严苛要求，确保数据根源的绝对可靠性

五、术之精要：逐步拆解与深度演练标准规定的测量程序，掌握每一步操作的精髓与潜在陷阱

六、数之真理：聚焦数据处理、计算与有效数字修约规则，从原始数据到最终报告的严谨转化之道

七、不确定度密码：深入解读测量不确定度评定的模型、分