JJF(皖) 259-2026 半导体器件PCT老化综合试验系统校准规范.pdfVIP

(皖)

安徽省地方计量技术规范

JJF（皖）259-2026

半导体器件PCT老化综合试验系统

准规范

CalibrationSpecificationforIntegratedPCTAgingTestSystemsfor

SemiconductorDevices

2026—01—09发布2026—03—01实施

安徽省市场监督管理局发布

JJF(皖)259—2026

半导体器件PCT

老化综合试验系统准

规范

JJF（皖）259—2026

CalibrationSpecificationfor

IntegratedPCTAgingTestSystems

forSemiconductorDevices

归口单位：安徽省热工计量技术委员会

主要起草单位：池州市计量测试所

宣城市标准计量所

安庆市计量测试所

JJF(皖)259—2026

本规范委托安徽省热工计量技术委员会负责释

JJF(皖)259—2026

本规范主要起草人：

吴蔡祥（池州市计量测试所）

马克华

(池州市计量测试所)左罗

(池州市计量测试所)

殷锦汉(宣城市标准计量所)

蒋立新(安庆市计量测试所)

JJF(皖)259—2026

目录

引言(Ⅱ)

1范围（1）

2引用文件（1）

3术语（1）

4概述（2）

5计量特性（2）

6准条件（3）

6.1环境条件（3）

6.2负载条件（3）

6.3测量标准及其他设备（3）

7准项目和准方法（4）

7.1校准项目（4）

7.2校准方法（4）

8准结果的表达（8）

9复时间间隔（8）

附录A准原始记录格式（推荐性）（9）

附录B准证书内页格式（推荐性）（10）

附录C测量结果不确定度评定示例（11）

I

JJF(皖)259—2026

引言

本规范依据JJF1071-2010《国家计量校准规范编写规则》、JJF1001-2011

《通用计量术语及定义》和JJF1059.1-

2012《测量不确定度评定与表