非接触坐标测量技术的原理、实践与典型光学元件测量实验探究.docx

非接触坐标测量技术的原理、实践与典型光学元件测量实验探究

一、引言

1.1研究背景与意义

在现代工业生产和科学研究中，坐标测量技术是实现高精度制造和质量控制的关键环节。传统的接触式坐标测量方法，如三坐标测量机，通过测头与被测物体直接接触获取坐标数据，虽然测量精度较高，但存在测量速度慢、易损伤被测物体表面、无法测量一些柔软或易变形材料等局限性。随着制造业向高精度、高效率、高柔性方向发展，对坐标测量技术提出了更高的要求，非接触坐标测量技术应运而生。

非接触坐标测量技术利用光学、电磁、超声波等原理，无需与被测物体直接接触即可获取其表面的三维坐标信息，具有测量速度快、对被测物体无损伤、可测量复杂形状