光路板 基本试验和测量程序 第2部分：光路板光学特性测量条件导则标准立项修订与发展报告.docxVIP

《光路板基本试验和测量程序第2部分：光路板光学特性测量条件导则》标准发展研究报告

EnglishTitle:ResearchReportontheDevelopmentofStandard“Opticalcircuitboards–Basictestandmeasurementprocedures–Part2:Generalguidancefordefinitionofmeasurementconditionsforopticalcharacteristicsofopticalcircuitboards”

摘要

随着信息技术的飞速发展，数据中心、高性能计算、5G通信等领域对数据传输带宽和速率的需求呈指数级增长。当电互连技术在10Gbps及以上速率面临信号完整性、功耗和电磁干扰等瓶颈时，光互连技术凭借其高带宽、低损耗、抗电磁干扰等优势，成为突破“电瓶颈”的关键路径。光路板作为将光波导集成于印刷电路板中的第三代板级光互连核心组件，是实现设备内部高速、高密度光电混合集成的理想平台，正引领着电子系统架构的革命性变革。然而，光路板产业尚处发展初期，其光学特性的测量方法、条件缺乏统一规范，导致不同厂商、实验室间的测试结果可比性差，严重制约了产品的规模化应用、质量评估与产业链协同。

本报告聚焦于国家标准《光路板基本试验和测