钨矿石、钼矿石化学分析方法 第24部分：锗量的测定 电感耦合等离子体质谱法标准立项修订与发展报告.docx

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《钨矿石、钼矿石化学分析方法第24部分：锗量的测定电感耦合等离子体质谱法》标准化发展报告

EnglishTitle:StandardizationDevelopmentReporton“MethodsforChemicalAnalysisofTungstenOresandMolybdenumOres—Part24:DeterminationofGermaniumContent—InductivelyCoupledPlasmaMassSpectrometry”

摘要：

随着全球高新技术产业的迅猛发展，锗作为一种重要的战略性稀散金属，在红外光学、光纤通信、太阳能电池及半导体等领域的应用日益广泛。钨、钼矿石作为锗的重要伴生资源，其准确、高效的分析检测对于资源评价、综合利用和贸易结算至关重要。然而，传统的锗分析方法如分光光度法、原子荧光光谱法等，存在操作繁琐、灵敏度有限或干扰因素多等局限性，难以满足当前对痕量、超痕量锗快速检测的需求。本报告围绕国家标准《钨矿石、钼矿石化学分析方法第24部分：锗量的测定电感耦合等离子体质谱法》的制定，系统阐述了其立项背景、目的意义、技术范围与核心内容。该标准旨在补充和完善现有钨钼矿石化学分析体系，通过引入具有高灵敏度、宽线性范围、多元素同时测定能力的电感耦合等离子体质谱（ICP-MS）技术，