印制电路板及组装件电化学迁移测试方法标准立项修订与发展报告.docx

印制电路板及组装件电化学迁移测试方法标准立项修订与发展报告.docx

《印制电路板及组装件电化学迁移测试方法》国家标准立项发展报告

EnglishTitle:DevelopmentReportontheNationalStandardProject:TestMethodsforElectrochemicalMigrationofPrintedCircuitBoardsandAssemblies

摘要

随着电子产品向高密度、微型化、高可靠性方向快速发展,印制电路板(PCB)及组装件(PCBA)的长期可靠性面临严峻挑战。其中,电化学迁移(ECM)作为一种由离子污染物在电场和湿度作用下引发的失效模式,是导致电路短路、漏电流增大乃至

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