半导体洁净室水溶性空气分子污染物(AMC)的测定 离子色谱法 编制说明(预审稿).pdf

半导体洁净室水溶性空气分子污染物(AMC)的测定 离子色谱法 编制说明(预审稿).pdf

《半导体洁净室水溶性空气分子污染物(AMC)的测定离子色谱法》

编制说明(预审稿)

一、工作简况

1.1立项目的和意义

目前,随着相关部门对产品纯度的要求日益提升,人民对工作和生活环境健

康的关注度日益增强,无论是电子芯片制造、药品生产及食品生产,还是公众日

常的家庭生活,空气分子污染均是不可忽视的污染类型,空气分子污染物(AMC)

即环境中有能力沉降于表面上形成单分子层(Monolayer)薄膜的气态化学污染物

质,有机污染会引起生产工具中不利的影响,同时增加集成半导体器件、磁盘驱

动、液

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