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CN118501670B 晶圆重测方法、晶圆测试系统、测试机及可读存储介质 （杭州长川科技股份有限公司）.pdfVIP

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  • 2026-03-18 发布于重庆
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CN118501670B 晶圆重测方法、晶圆测试系统、测试机及可读存储介质 （杭州长川科技股份有限公司）.pdf

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利

    (10)授权公告号CN118501670B

    (45)授权公告日2025.01.14

    (21)申请号202410960941.3G01R1/067(2006.01)

    (22)申请日2024.07.17(56)对比文件

    (65)同一申请的已公布的文献号CN116338424A,2023.06.27

    申请公布号CN118501670AUS2015066414A1,2015.03.05

    审查员舒生

    (43)申请公布日2024.08.16

    (73)专利权人杭州长川科技股份有限公司

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