《CMOS集成电路抗辐射加固设计要求》标准发展报告
EnglishTitle:DevelopmentReportontheStandardforRadiationHardeningDesignRequirementsofCMOSIntegratedCircuits
摘要
随着我国航天、国防等尖端科技领域的飞速发展,电子系统在强辐射环境(如太空、核爆等)下的可靠运行成为关键挑战。CMOS集成电路作为现代电子系统的核心,其抗辐射能力直接决定了整个系统的生存性与任务成功率。在此背景下,制定《CMOS集成电路抗辐射加固设计要求》标准具有重大的战略意义和紧迫的现实需求。本报
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