原创力文档- 0
- 0
- 约1.83万字
- 约 20页
- 2026-03-20 发布于四川
-
正版发售
- 即将实施
- 暂未开始实施
- | 2026-02-27 颁布
- | 2026-09-01 实施
ICS31.080.01
CCSL40
中华人民共和国国家标准
/—/:
GBT4937.412026IEC60749-412020
半导体器件机械和气候试验方法
:
第部分非易失性存储器可靠性试验方法
41
——
SemiconductordevicesMechanicalandclimatictestmethods
:
Part41Testmethodforreliabilitofnon-volatilememordevices
yy
(:,
您可能关注的文档
- GB/T 5078-2026单向引出的电容器和电阻器所需空间的测定方法.pdf
- 中国国家标准 GB/T 5078-2026单向引出的电容器和电阻器所需空间的测定方法.pdf
- 《GB/T 5078-2026单向引出的电容器和电阻器所需空间的测定方法》.pdf
- GB/T 4937.41-2026半导体器件 机械和气候试验方法 第41部分：非易失性存储器可靠性试验方法.pdf
- 中国国家标准 GB/T 4937.41-2026半导体器件 机械和气候试验方法 第41部分：非易失性存储器可靠性试验方法.pdf
- GB/T 17737.110-2026同轴通信电缆 第1-110部分：电气试验方法 连续性试验.pdf
- 中国国家标准 GB/T 17737.110-2026同轴通信电缆 第1-110部分：电气试验方法 连续性试验.pdf
- 《GB/T 17737.110-2026同轴通信电缆 第1-110部分：电气试验方法 连续性试验》.pdf
- GB/T 17737.126-2026同轴通信电缆 第1-126部分：电气试验方法 灭晕电压.pdf
- 中国国家标准 GB/T 17737.126-2026同轴通信电缆 第1-126部分：电气试验方法 灭晕电压.pdf
文档评论（0）