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GB/T 4937.41-2026半导体器件　机械和气候试验方法　第41部分：非易失性存储器可靠性试验方法.pdf

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  • 2026-03-20 发布于四川
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  •   |  2026-02-27 颁布
  •   |  2026-09-01 实施

GB/T 4937.41-2026半导体器件　机械和气候试验方法　第41部分：非易失性存储器可靠性试验方法.pdf

    ICS31.080.01

    CCSL40

    中华人民共和国国家标准

    /—/:

    GBT4937.412026IEC60749-412020

    半导体器件机械和气候试验方法

    :

    第部分非易失性存储器可靠性试验方法

    41

    ——

    SemiconductordevicesMechanicalandclimatictestmethods

    :

    Part41Testmethodforreliabilitofnon-volatilememordevices

    yy

    (:,

    GB/T 4937.41-2026半导体器件　机械和气候试验方法　第41部分：非易失性存储器可靠性试验方法.pdf 原文免费试下载

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