CN120107163A 基于优化YOLOv8模型的表面缺陷检测方法及系统 (华南理工大学).pdfVIP

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  • 2026-03-23 发布于重庆
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CN120107163A 基于优化YOLOv8模型的表面缺陷检测方法及系统 (华南理工大学).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN120107163A

(43)申请公布日2025.06.06

(21)申请号202510107373.7G06V10/44(2022.01)

G06V10/52(2022.01)

(22)申请日2025.01.23

G06V10/80(2022.01)

(71)申请人华南理工大学

G06N3/045(2023.01)

地址510640广东省广州市天河区五山路

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