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第4章文物成像技术

进行文物研究时，经常需要了解文物内部结构的情况、提取隐藏的文物信息，这就需要借助文物成像技术。文物内部及表面成像分析包括X射线成像、层析成像和多光谱、高光谱成像等，这些技术都是无损检测技术，对文物样品没有过多限制。X射线成像技术通过X光透射样品获得二维图像信息，层析成像技术可以获得三维图像和位置空间信息，内部结构复杂的文物更适合用层析成像技术。多光谱成像技术可以通过物质的光谱特性准确记录文物表面最本质的色彩信息，高光谱成像是在多光谱的基础上扩展了光谱范围和波段数量，谱图信息维数更加丰富。本章主要从检测方法入手介绍各成像技术的原理及特点，通过实际应用案例聚焦仪器设备信息和实验检测条件，以期为深入开展文物保护工作提供借鉴。

一、X射线成像1.基本原理X射线（X－ray）是一种波长范围在0.005～10nm之间的电磁波，介于紫外线和γ射线之间，波长越短，光子的能量越大，其穿透能力也越强。当X射线射入物体后会与物体发生复杂的相互作用，即光子与物质原子的相互作用，表现出光电效应、康普顿效应、电子对效应和瑞利散射等现象。由于这些相互作用，一部分射线被物质吸收，一部分射线被散射，因而X射线在穿透物质时产生了衰减。图4.1文物X射线成像的基本原理

一、X射线成像2.仪器设备携带式X射线机将X射线管、高压发生器、冷却系统共同安装在一个机壳中，称为组合式，为了防止高压放电