CN114897806B 缺陷检测方法、电子设备及计算机可读存储介质 (浙江华睿科技股份有限公司).docxVIP

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  • 2026-03-24 发布于山西
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CN114897806B 缺陷检测方法、电子设备及计算机可读存储介质 (浙江华睿科技股份有限公司).docx

(19)国家知识产权局

(12)发明专利

(10)授权公告号CN114897806B

(45)授权公告日2025.06.06

(21)申请号202210457602.4

(22)申请日2022.04.27

(65)同一申请的已公布的文献号申请公布号CN114897806A

(43)申请公布日2022.08.12

(73)专利权人浙江华睿科技股份有限公司

地址310051浙江省杭州市滨江区滨安路

1181号A幢8层

(72)发明人许文夏周璐李晶

(74)专利代理机构深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙)44280

专利代理师何倚雯

(51)Int

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