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2026年扫描电镜测试题及答案

一、单项选择题（总共10题，每题2分）

1.扫描电镜（SEM）主要用于观察样品的什么特性？

A.光学性质

B.电磁场分布

C.表面形貌

D.内部结构

答案：C

2.在扫描电镜中，二次电子信号主要来自样品的什么区域？

A.样品表面

B.样品内部

C.样品背散射

D.样品衬底

答案：A

3.扫描电镜中常用的探测器是？

A.光电倍增管

B.半导体探测器

C.热电探测器

D.情景探测器

答案：B

4.扫描电镜的分辨率主要受什么因素影响？

A.加速电压

B.样品温度

C.真空度

D.探测器类型

答案：A

5.扫描电镜中，背散射电子（BSE）信号主要来自？

A.样品表面

B.样品内部

C.样品背散射

D.样品衬底

答案：C

6.扫描电镜中，样品制备过程中常用的固定剂是？

A.乙醇

B.丙酮

C.甲醛

D.乙酸

答案：C

7.扫描电镜中，样品的导电性对成像质量的影响是？

A.导电性好，成像质量高

B.导电性好，成像质量低

C.导电性差，成像质量高

D.导电性差，成像质量低

答案：A

8.扫描电镜中，样品的厚度一般要求是多少？

A.1-2微米

B.10-20微米

C.50-100微米

D.100-200微米

答案：B

9.扫描电镜中，样品的清洁度对成像质量的影响是？

A.清洁度高