CN114390908B 散射断层成像装置以及散射断层成像方法 （积分几何科学公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利

(10)授权公告号CN114390908B

(45)授权公告日2025.07.11

(21)申请号202080063129.0

(22)申请日2020.07.28

(65)同一申请的已公布的文献号申请公布号CN114390908A

(43)申请公布日2022.04.22

(30)优先权数据

2019-1686752019.09.17JP

(85)PCT国际申请进入国家阶段日2022.03.09

(86)PCT国际申请的申请数据

PCT/JP2020/0288862020.07.28

(87)PCT国际申请的公布数据

WO202