CN120148599A 阈值电压测试电路、测试芯片、测试方法和可读存储介质 （杭州广立微电子股份有限公司）.pdfVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN120148599A

(43)申请公布日2025.06.13

(21)申请号202510631171.2

(22)申请日2025.05.16

(66)本国优先权数据

202510117634.32025.01.24CN

(71)申请人杭州广立微电子股份有限公司

地址310012浙江省杭州市西湖区西斗门

路3号天堂软件园A幢15楼F1座

(72)发明人王同营于天祺

(74)专利代理机构苏州石金知识产权代理事务

所(普通合伙)32844

专利代理师张璐豪

(51)Int.Cl.

G11C29/50(2006.01)