1. 您所在位置：
  2. 网站首页
  3. 文档分类
  4. 行业资料
  5. 国内外标准规范

GB/T 47239.9-2026半导体器件　柔性可拉伸半导体器件　第9部分：一晶体管一电阻式(1T1R)电阻存储单元性能测试方法.pdf

  • 14
  • 0
  • 约9.65千字
  • 约 20页
  • 2026-03-31 发布于四川
  • 正版发售
  • 即将实施
  • 暂未开始实施
  •   |  2026-02-27 颁布
  •   |  2026-09-01 实施

GB/T 47239.9-2026半导体器件　柔性可拉伸半导体器件　第9部分：一晶体管一电阻式(1T1R)电阻存储单元性能测试方法.pdf

    ICS31.080.99

    CCSL55

    中华人民共和国国家标准

    /—

    GBT47239.92026

    半导体器件柔性可拉伸半导体器件

    :()

    第部分一晶体管一电阻式

    91T1R

    电阻存储单元性能测试方法

    ——

    SemiconductordevicesFlexibleandstretchablesemiconductordevices

    :

    Part9Performancetestin

    GB/T 47239.9-2026半导体器件　柔性可拉伸半导体器件　第9部分：一晶体管一电阻式(1T1R)电阻存储单元性能测试方法.pdf 原文免费试下载

    您可能关注的文档

    最近下载

    文档评论（0）

    1亿VIP精品文档

    更多 >

    相关文档

    更多 >