CN120278945A 太阳能组件的缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 （浙江求是半导体设备有限公司）.pdfVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN120278945A

(43)申请公布日2025.07.08

(21)申请号202510133996.1

(22)申请日2025.02.06

(71)申请人浙江求是半导体设备有限公司

地址311100浙江省杭州市临平区临平街

道顺达路500号1幢102室

申请人浙江晶盛机电股份有限公司

(72)发明人傅林坚刘华郝慧

(51)Int.Cl.

G06T7/00(2017.01)

G01N21/88(2006.01)

G06T7/13(2017.01)

G06V10/26(2022.01)

G06V10/82(2022.01)

G06N3/0464(2023.01)