CN120148598A 一种闪存器件的浮栅耦合系数测试方法 (华南理工大学).pdfVIP

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  • 2026-04-05 发布于重庆
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CN120148598A 一种闪存器件的浮栅耦合系数测试方法 (华南理工大学).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN120148598A

(43)申请公布日2025.06.13

(21)申请号202510137615.7

(22)申请日2025.02.07

(71)申请人华南理工大学

地址510000广东省广州市天河区五山路

申请人粤芯半导体技术股份有限公司

(72)发明人林伟豪陈荣盛刘文虎朱加丽

(74)专利代理机构广州三环专利商标代理有限

公司44202

专利代理师戴莉

(51)Int.Cl.

G11C29/50(2006.01)

G11C29/56(2006.01)

权利要求书3页说明书12页附图5页

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