IEC 61967 中文版（半导体集成电路测试方法 汽车电子专用版）.docxVIP

IEC61967中文版（半导体集成电路测试方法汽车电子专用版）

前言

本标准等同采用国际电工委员会（IEC）发布的IEC61967系列标准，结合汽车电子领域的特殊应用需求，制定为汽车电子专用版半导体集成电路测试方法。本标准旨在规范汽车电子用半导体集成电路（以下简称“汽车IC”）的测试条件、测试设备、测试程序及结果评价，确保汽车IC在车载环境下的可靠性、安全性和兼容性，为汽车电子系统的稳定运行提供技术支撑。

汽车电子系统直接关系到车辆行驶安全和驾乘人员生命安全，其核心部件半导体集成电路需承受极端温度、振动、电磁干扰等严苛车载环境，因此对测试方法的专业性和针对性提出了更高要求。本标准在IEC61967通用测试方法的基础上，融入汽车电子行业特有的测试需求，参考AEC-Q100等车规芯片可靠性标准，明确了汽车IC在环境适应性、电磁兼容性、长期可靠性等方面的专项测试要求，适用于汽车电子用各类半导体集成电路的研发、生产、检测及认证环节。

本标准由[归口单位]归口管理，由[起草单位]负责起草，主要起草人[姓名]。本标准自发布之日起实施，替代原相关汽车IC测试的临时规范，如有修订，将以修订版为准。

1范围

本标准规定了汽车电子专用半导体集成电路的测试总则、测试环境、测试设备、各类测试方法、测试程序、测试结果评价及测试报告要求。

本标准适用于汽车电子系统中使用的各类半导体集成电路，包括