CN120218299A 质量预测方法、装置、电子设备及存储介质 (航天科工防御技术研究试验中心).pdfVIP

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  • 2026-04-07 发布于重庆
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CN120218299A 质量预测方法、装置、电子设备及存储介质 (航天科工防御技术研究试验中心).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN120218299A

(43)申请公布日2025.06.27

(21)申请号202510139831.5G06N3/045(2023.01)

G06N3/084(2023.01)

(22)申请日2025.02.08

G06N3/09(2023.01)

(71)申请人航天科工防御技术研究试验中心

地址100085北京市海淀区永定路50号

(72)发明人韩西龙李宏民刘睿杜贝娜

张生鹏张特先邓科

(74)专利代理机构北京风雅颂专利代理有限公

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