CN120161049A 一种电容缺陷检测系统、检测方法、控制器和存储介质 (东莞高伟光学电子有限公司).pdfVIP

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  • 2026-04-07 发布于重庆
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CN120161049A 一种电容缺陷检测系统、检测方法、控制器和存储介质 (东莞高伟光学电子有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN120161049A

(43)申请公布日2025.06.17

(21)申请号202510145796.8

(22)申请日2025.02.10

(71)申请人东莞高伟光学电子有限公司

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