半导体器件低浓度氢效应试验方法DB13_T 6033-2024_可搜索.pdfVIP

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半导体器件低浓度氢效应试验方法DB13_T 6033-2024_可搜索.pdf

ICS31.080

ICS31.080

CCS

CCSL40

L40

13

河北省地方标准

DB13/T6033—2024

半导体器件低浓度氢效应试验方法

半导体器件低浓度氢效应试验方法

Testmethodoflowconcentrationhydrogeneffectinsemiconductordevices

2024-10-28发布2024-11-28实施

2024-10-28发布

河北省市场监督管理局发布

河北省市场监督管理局发布

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