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基于自测试的VLSI芯片可靠性技术：原理、挑战与创新实践

一、引言

1.1研究背景与意义

在现代科技飞速发展的浪潮中，超大规模集成电路（VLSI,VeryLargeScaleIntegration）芯片作为各类电子设备的核心部件，其重要性不言而喻。从日常使用的智能手机、平板电脑，到数据中心的高性能服务器，从汽车的自动驾驶系统到医疗领域的精密检测设备，VLSI芯片无处不在，支撑着现代社会的信息化运转，已然成为推动科技进步和产业发展的关键力量。随着集成电路技术的不断演进，芯片的集成度呈指数级增长，从最初的小规模集成电路逐步发展到如今的超大规模集成电路，单个芯片上能够集成数十亿乃至上百亿