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基于偏振基础参数的偏光片外观缺陷检测方法
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基于偏振基础参数的偏光片外观缺陷检测方法
摘要:本文针对偏光片外观缺陷检测问题,提出了一种基于偏振基础参数的检测方法。该方法利用偏振光原理,通过分析偏光片表面缺陷对偏振光的影响,实现缺陷的自动识别和定位。首先,介绍了偏振光的基本原理和偏光片的结构特点,然后详细阐述了基于偏振基础参数的缺陷检测算法,包括偏振光成像、图像预处理、特征提取和缺陷识别等步骤。实验结果表明,该方法能够有效检测偏
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