CN119920804A 半导体结构及半导体结构的测试方法 (上海积塔半导体有限公司).pdfVIP

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  • 2026-04-12 发布于重庆
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CN119920804A 半导体结构及半导体结构的测试方法 (上海积塔半导体有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119920804A

(43)申请公布日2025.05.02

(21)申请号202510172076.0

(22)申请日2025.02.17

(71)申请人上海积塔半导体有限公司

地址201306上海市浦东新区中国(上海)

自由贸易试验区临港新片区云水路

600号

(72)发明人王帅王珊珊仇峰

(74)专利代理机构华进联合专利商标代理有限

公司44224

专利代理师杨明莉

(51)Int.Cl.

H01L23/544(2006.01)

H01L21/66(2006.01)

权利要求书2页说

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