面向同轴封装金属底座缺陷的Metal-YOLO检测算法.docx

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面向同轴封装金属底座缺陷的Metal-YOLO检测算法

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面向同轴封装金属底座缺陷的Metal-YOLO检测算法

摘要:随着电子行业的高速发展,同轴封装金属底座在生产过程中可能会出现各种缺陷,这些缺陷可能会严重影响产品的性能和可靠性。传统的缺陷检测方法通常依赖于人工检测,效率低下且易受主观因素影响。为了解决这一问题,本文提出了一种基于Metal-YOLO的缺陷检测算法。该算法利用YOLO(YouOnlyLookOnce)

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