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CN120125887A 融合边缘特征的芯片缺陷检测模型训练方法和检测方法 （厦门大学）.pdfVIP

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  • 2026-04-17 发布于重庆
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CN120125887A 融合边缘特征的芯片缺陷检测模型训练方法和检测方法 （厦门大学）.pdf

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN120125887A

    (43)申请公布日2025.06.10

    (21)申请号202510190162.4G06V10/774(2022.01)

    G06N3/0464(2023.01)

    (22)申请日2025.02.20

    G06N3/08(2023.01)

    (71)申请人厦门大学

    G06T7/00(2017.01)

    地址361005福建省厦门市思明区思明南

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