CN119413285A 基于面元优化处理技术的多光谱测温测量方法及其装置、存储介质和电子设备 (北京航空航天大学).docxVIP

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  • 2026-04-20 发布于山西
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CN119413285A 基于面元优化处理技术的多光谱测温测量方法及其装置、存储介质和电子设备 (北京航空航天大学).docx

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119413285A

(43)申请公布日2025.02.11

(21)申请号202510020315.0

(22)申请日2025.01.07

(71)申请人北京航空航天大学

地址100191北京市海淀区学院路37号

(72)发明人孙畅吴明佳丁铭朱剑李梦茜

(74)专利代理机构北京远大卓悦知识产权代理

有限公司11369

专利代理师史霞

(51)Int.Cl.

G01J5/00(2022.01)

G06N3/0464(2023.01)

G06N3/084(2023.01

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