CN119671399A 一种二极管封装质量分析检测方法 （派克微电子(深圳)有限公司）.pdfVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119671399A

(43)申请公布日2025.03.21

(21)申请号202510186297.3

(22)申请日2025.02.20

(71)申请人派克微电子（深圳）有限公司

地址518000广东省深圳市坪山区坪山街

道和平社区金牛西路16号华瀚科技工

业园厂房1栋40306

(72)发明人陈盛隆叶敏

(74)专利代理机构深圳市宏德雨知识产权代理

事务所(普通合伙)44526

专利代理师王攀

(51)Int.Cl.

G06Q10/0639(2023.01)

G06Q50/04(2012.01)