集成电路可测性设计与 DFT 手册.docxVIP

集成电路可测性设计与DFT手册

1.第1章集成电路可测性设计概述

1.1可测性设计的基本概念

1.2可测性设计的重要性

1.3可测性设计的目标与原则

2.第2章物理设计中的可测性考虑

2.1物理设计中的可测性因素

2.2电路布局对可测性的影响

2.3电路布线对可测性的影响

2.4物理设计中的可测性验证方法

3.第3章逻辑设计中的可测性分析

3.1逻辑设计中的可测性分析方法

3.2逻辑门的可测性分析

3.3逻辑电路的可测性分析

3.4逻辑设计中的可测性验证

4.第4章时序可测性设计

4.1时序可测性设计的基本概念

4.2时序可测性分析方法

4.3时序可测性优化策略

4.4时序可测性验证技术

5.第5章电源与信号完整性可测性设计

5.1电源可测性设计

5.2信号完整性可测性设计

5.3电源与信号完整性对可测性的影响

5.4可测性设计中的电源与信号完整性验证

6.第6章可测性测试方法与工具

6.1可测性测试方法

6.2可测性测试工具概述

6.3可测性测试流程与步骤

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