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2026年科技行业量子计算量子硬件可靠性评估考核试卷及答案

1.单项选择（每题2分，共20分）

1.1在超导量子比特中，导致T?时间受限的主要噪声源是

A.1/f磁通噪声?B.准粒子隧穿?C.电荷噪声?D.声子辐射

1.2对表面码而言，实现逻辑错误率p_L10??所需物理比特数N的标度律最接近

A.N∝p?1?B.N∝p?2?C.N∝p?3?D.N∝p??

1.3随机基准（RB）序列长度m=100，平均存活概率P_m=0.95，则平均错误率ε的估计值为

A.5.1×10???B.5.0×10?3?C.1.0×10?3?D.9.5×10??

1.4在离子阱系统中，M?lmer–S?rensen门的保真度主要受限于

A.激光强度涨落?B.离子加热?C.模式串扰?D.以上全部

1.5量子硬件可靠性评估中，加速老化实验的温度加速因子遵循

A.Arrhenius模型?B.Eyring模型?C.Coffin–Manson模型?D.Norris–Landzberg模型

1.6对量子芯片进行热循环-196°C?+150°C，1000次后超导临界电流退化5%，该实验对应可靠性试验类别

A.HTOL?B.TC?C.THB?D.EM

1.7量子比特频率crowding会直接导致

A.串扰误差增大?B.T?降低?C.读出信噪比下降