CN119693377A 基于红外识别的设备缺陷检测方法 (北京东宇宏达科技有限公司).pdfVIP

  • 3
  • 0
  • 约2.15万字
  • 约 17页
  • 2026-04-26 发布于重庆
  • 举报

CN119693377A 基于红外识别的设备缺陷检测方法 (北京东宇宏达科技有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119693377A

(43)申请公布日2025.03.25

(21)申请号202510208765.2G01N25/72(2006.01)

G01J5/48(2022.01)

(22)申请日2025.02.25

(71)申请人北京东宇宏达科技有限公司

地址100043北京市石景山区和平西路60

号院1号楼15层1501-8

(72)发明人刘素玲高山张啸辉郑天

王维

(74)专利代理机构北京维正专利代理有限公司

11508

专利代理师陈永军

(51)In

您可能关注的文档

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档