CN119693363A 基于卷积神经网络的微型芯片外观缺陷检测方法 (明益信(江苏)智能设备有限公司).pdfVIP

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  • 2026-04-26 发布于重庆
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CN119693363A 基于卷积神经网络的微型芯片外观缺陷检测方法 (明益信(江苏)智能设备有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119693363A

(43)申请公布日2025.03.25

(21)申请号202510200022.0G06V10/82(2022.01)

G06N3/0442(2023.01)

(22)申请日2025.02.24

G06N3/0464(2023.01)

(71)申请人明益信(江苏)智能设备有限公司G06N3/045(2023.01)

地址215300江苏省苏州市昆山市玉山镇

G06N3/084(

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