CN119757855A 晶振频偏测试方法、装置、设备及介质 (深圳新芯智能有限公司).pdfVIP

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  • 2026-04-27 发布于重庆
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CN119757855A 晶振频偏测试方法、装置、设备及介质 (深圳新芯智能有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119757855A

(43)申请公布日2025.04.04

(21)申请号202510223904.9

(22)申请日2025.02.27

(71)申请人深圳新芯智能有限公司

地址518000广东省深圳市宝安区西乡街

道龙腾社区汇智研发中心BC座B1604

(72)发明人张江波陈仲才梁锦旺梁锦辉

谭业

(74)专利代理机构深圳市精英创新知识产权代

理有限公司44740

专利代理师涂年影

(51)Int.Cl.

G01R23/02(2006.01)

G01R31/00(2006.01)

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